Microscopio de antimateria

El microscopio de escaneo de positrones (SPM) pronto podrá estar disponible como una herramienta de gran alcance para probar muchos materiales diferentes.
Werner Triftshäuser y sus colegas en la Universidad Militar de Munich, Alemania, pensaron que los positrones pueden dar imágenes de alta calidad de los defectos en las superficies de semiconductores.
El SPM utiliza positrones, la antipartícula de los electrones, a la hora de detectar los defectos en semiconductores....